新產品適合用來測試RF、MEMS與混合訊號,以及其他類比半導體元件。

許多晶片製造廠均已迅速採用半導體測試系統(STS),以達到提高產量、提升成本效益與縮減生產線規模等目的,新款PXIe-4163 SMU可進一步發揮上述功效。PXIe-4163 SMU具備更高的DC通道密度,能在多站點應用上實現更高等級的平行機制,同時透過可立即用於生產的規格,達到實驗室等級的量測品質。

工程師可結合運用上述優勢,將相同的儀控設備運用在檢驗實驗室與生產線上,如此即可減少與量測相關的種種難題,並縮短上市時間。

STS於2014年首度發表,為半導體生產測試提供了截然不同的方式。STS是以NI PXI平台為基礎所建置而成,可協助工程師建置更具智慧效能的測試系統。這款PXI平台涵蓋1GHz頻寬的向量訊號收發器、fA系列SMU、領先業界的商用現貨測試管理軟體TestStand,以及超過600款PXI產品(從DC到mmWave皆包含在內)。