VersaPoint測試點技術可降低製造的測試成本並提升系統中(in-system)測試的品質——這是汽車與其他產業對高可靠度IC的兩個重要要求。Mentor同時宣佈,為了達到汽車安全完整性等級(ASIL)的C和D級認證,瑞薩電子(Renesas Electronics)已採用VersaPoint技術來開發汽車IC,以滿足關鍵的安全測試需求。

汽車IC中的數位電路通常會混合利用晶片上(on-chip)壓縮/ATPG和邏輯內建自我測試(LBIST)技術來進行測試,可達到非常高的缺陷覆蓋製造測試,並實現系統中與開機自我測試(power-on self-test)。

測試點是專用的設計結構,可用來提升測試結果。傳統的LBIST測試點透過克服IC中的「抗隨機測試性(random pattern resistance)」來提升測試結果。Mentor最近開發的測試點技術是專為晶片上壓縮/ATPG所設計,若僅採用晶片上壓縮,就可減少2~4倍的ATPG測試向量數量。Tessent VersaPoint測試點技術可結合並改善這些技術。

相較於傳統的LBIST測試點,Tessent VersaPoint技術可帶來更佳的LBIST測試覆蓋,當利用晶片上壓縮/ATPG測試點時,還能顯著減少ATPG測試向量數量。此技術是專為利用Tessent Hybrid ATPG/LBIST的測試工程師所設計,可降低測試成本並提升品質,特別是針對汽車應用IC。