Calibre nmLVS-Recon 技術是電路驗證新典範,可縮短產品上市時間

時間2021-04-06

分類 Whitepaper

資料簡介

晶片製造變得越來越難,且需要的時間也越來越長,這種趨勢是相當明顯的。創新的早期階段設計驗證技術套件不斷擴充,Calibre nmLVS-Recon 工具是此套件的一部分,可讓設計團隊快速地檢視有大量瑕疵且不成熟的設計,能更早且更快地找出並修正有重大影響的電路錯誤,從而在整體上縮短晶片製造時程與上市時間。

The admin of this site has disabled the download button for this page.

資料下載

Calibre nmLVS-Recon 技術是電路驗證新典範,可縮短產品上市時間

相關資料推薦
可設定的易用型組合式可靠性檢查

上傳時間:2021-04-06

分類: Whitepaper

新型超小級驅動內置VCSEL元器件發售

上傳時間:2021-03-10

分類: Whitepaper

測試是自動駕駛汽車正式上路前的必要步驟

上傳時間:2020-01-07

分類: Whitepaper

資料中心互連 (DCI) 白皮書系列

上傳時間:2020-01-07

分類: Whitepaper

如何使用網路分析儀的4個先進功能加速元件測試

上傳時間:2020-01-07

分類: Whitepaper

如何利用TestOps 加速設計與測試

上傳時間:2020-01-07

分類: Whitepaper

校準IP與SoC之間的汽車安全要求

上傳時間:2019-12-30

分類: Whitepaper

2019半導體電子產業關注焦點

上傳時間:2019-09-26

分類: Whitepaper

如何解決嵌入式物聯網設計的6大安全挑戰

上傳時間:2019-09-25

分類: Whitepaper

5G 半導體測試工程師指南

上傳時間:2019-09-20

分類: Whitepaper

邁向關鍵基礎設施軟體定義化的虛擬平臺

上傳時間:2019-08-02

分類: Whitepaper

RL78 快速解決方案可加速常見應用的原型開發

上傳時間:2019-07-02

分類: Whitepaper

迎接TestOps來臨:加速推進設計和測試工作流程

上傳時間:2019-06-19

分類: Whitepaper