時間2021-12-13
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飛行時間式二次離子質譜(TOF-SIMS)是一項極為靈敏的表面分析技術，可以同時獲得空間解析度及縱深分析的訊息，已廣泛應用於先進製程的各種開發研究，是微區分析的一大利器…
【2021年12月雜誌 】縱橫半導體檢測 TOF-SIMS扮演要角
上傳時間：2023-04-13
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