當二極體遇到跌落測試…

作者 : John Dunn，EDN專欄作者

電源中一顆特定的二極體在經過裝置的機械跌落測試(drop test)後發生了短路故障，這種情況一而再地反覆發生...機械衝擊似乎是引發故障的原因...

多年前，我曾經在一項射頻(RF)應用中使用了2N918電晶體。該電晶體採用TO-72大小的封裝，其中有4根導線，分別用於連接集電極、發射極、基極和電晶體的金屬罐。後來，由於在設計和繪圖時遇到了佈局問題，因而想切斷連接電晶體金屬罐的導線。於是，我聯絡了供應商詢問細節。

「不！千萬別那樣做喔！」供應商回覆說，切斷該導線連接可能導致機械脈衝進入裝置中，因而可能損壞半導體晶片。

切斷導線引發的機械脈衝可能損壞晶片。請先記住這個想法，稍後將會進一步討論。

最近，剛好有朋友來找我討論電源問題，他提到在電源中有一顆特定的二極體在經過該裝置的機械跌落測試(drop test)後發生了短路故障。由於這種情況一而再地反覆發生。因此，多年前那個2N918電晶體問題的想法又重新浮現在腦海中。

由於機械衝擊似乎是引發故障的原因，我建議朋友先查查看二極體接線端子的連接是剛性還是軟性的。請參見圖 1。

圖 1：機械跌落測試的替代連接方法。

如果那根導線的堅硬度足以支撐聯合國(UN)大樓其中一翼，那麼在跌落測試期間，它可能會傳遞機械脈衝至該二極體封裝中。接著，這些脈衝可能會被傳輸至無法承受這種損壞的半導體晶片本身。

我建議讓二極體保持靈活的連接，並進一步建議使用軟性編織物來取代剛性導線，即可實現這一目的。

有時這真的是最簡單的事。但從那時起，我就再也沒聽說過有關二極體故障的消息了。

編譯：Susan Hong

(參考原文：The diode and the drop test，by John Dunn)

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