並聯參數測試系統滿足高速晶圓測試需求

作者 : Keysight Technologies

新的探針卡轉接器和SPECS軟體可加快量產腳步...

是德科技(Keysight Technologies)日前宣布推出新的Keysight P9002A並聯參數測試系統,協助半導體廠商進行經濟有效的高速晶圓測試,讓業者能加快研發和產品上市速度,並降低製造測試成本。

全球半導體短缺,對汽車、數位裝置和家用電器產業的衝擊甚鉅,市場需求也節節攀升。 另一方面,半導體產業不斷推展技術創新,例如採用新材料、微型化技術和3D封裝製程,但也因而面臨著各種技術挑戰。 此外,隨著適用於5G、資料中心、人工智慧(AI)和汽車等商業應用的複雜元件設計紛紛湧現,工程師需進行測試的參數也越來越多。

為因應此挑戰,並協助製造商快速提升產能,是德科技推出了新的P9002A並聯參數測試系統,以實現高量測速率且經濟有效的晶圓測試。該系統提供支援多達100個通道並聯測試資源的靈活選項結構,包括在每個測試資源上進行參數測試所需的測試功能。Keysight P9000系列的軟體與4080系列參數測試系統的SPECS軟體相容,讓客戶能夠利用現有的測試程式和測試計畫,進行資料關聯性比對。

是德科技新的P9002A並聯參數測試系統可為客戶提供下列多項優點:

  • 可根據測試需求添加選項,並提供符合成本效益的授權架構。
  • 相較於4080系列參數測試系統,P9002A具有獨特的參數測試技術和快速的電容量測功能,可大幅提高量測速率。
  • 具備與Keysight 4080系列參數測試系統的系統相容性和資料關聯性,讓客戶能夠繼續使用現有的測試儀程式、測試計畫,以及配備4080相容型探針卡轉接器的探針卡,進而以最低的成本,建立P9002A所需的測試環境。

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