相位雜訊分析儀鎖定精準振盪器特性分析

作者: Microchip Technology

Microchip Technology發佈新一代相位雜訊分析儀,產品型號為53100A。

這款相位雜訊測試儀可協助研發人員和製造工程師更精確地測量頻率訊號,包括由原子鐘產生的訊號,以及由其他高頻參考模組和子系統產生的訊號。

新推出的53100A型相位雜訊分析儀專為工程師和研發人員設計。他們的工作高度仰賴對來自5G網路、資料中心、商用及軍用飛機、太空飛行器、通訊衛星和計量測試應用的頻率訊號進行精確測量。這款全新的測試儀器能夠檢測高達200MHz的射頻訊號,可快速捕獲頻率訊號,並對相位雜訊、頻率抖動、艾倫偏差(ADEV)和時間偏差等進行快速而精確的特性分析。只需一台分析儀和幾分鐘時間,便可對特定頻率的所有屬性進行完整的特性分析。

53100A型相位雜訊分析儀支援多種配置,可用一種參考訊號同時檢測三種不同的待測訊號,測試能力和穩定性均有提升。該設備體積小巧,尺寸僅為344×215×91毫米(13.5×8.5×3.6英吋),很容易整合在各種自動測試設備(ATE)系統中,同時具備足夠強大的測量能力,可勝任實驗室級別的計量測試工作。53100A型分析儀的介面向下相容,與Microchip的51xxA系列測試套件共用相同的命令和資料流程,進而大大降低了對現有ATE基礎架構進行重新設計的需求。

53100A型相位雜訊分析儀使用非常靈活,可透過前端面板連結一個頻率標準不同於待測裝置的參考設備,這樣就可以用同一個參考為不同的振盪器做特性分析。可用做參考的設備包括銣原子頻率標準(比如Microchip的8040C-LN)或者石英振盪器,如Microchip的1000C型恆溫晶體振盪器(OCXO),同時也支援其他廠商的精確振盪器產品。

 

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