國家儀器(NI)推出NI PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉架構。

最新半導體裝置的需求不斷超出傳統ATE的測試範圍。藉由引進半導體產業所建立的數位測試範例至半導體測試系統(STS)採用的開放式PXI平台中,並運用強大好用的波形編輯器與除錯工具加以改良,使用者便能利用最先進的PXI儀器減少測試成本,並提升RF與類比爲主IC的傳輸率。

NI PXIe-6570數位波形儀器針對無線裝置供應鏈與物聯網裝置上常見的IC,提供所需的測試功能與實惠的價格(以每針腳計算)。此儀器運用獨立電源與擷取引擎,能夠以每秒100MVector的速度執行波形,並且具備可在單一子系統中達成高達256個同步數位針腳的電壓/電流參數函式。 使用者能夠利用PXI與STS的開放特性,依據需求新增無限多個裝置,藉以達成測試設定的針腳與地點數量需求。

全新Digital Pattern Editor軟體整合數位pin map的編輯環境、規格與波形,進而能以更快的速度開發測試計畫;多點與多重儀器波形激發等內建工具,可順暢從開發擴展至生產;shmoo plot等工具與互動式pin view則可提升除錯與優化測試的效率。

使用相同的PXI硬體、TestStand、LabVIEW與Digital Pattern Editor軟體執行特性測試與生產測試有助減少簡化資料關聯流程,幫助使用者縮減上市時間。PXI硬體的小巧機身,不論是否包含在STS設定內,皆可節省產線空間並能以特性測試實驗室機台的標準電源運作。

半導體公司現正採用NI平台與生態系統來建造智慧型測試系統。除了可立即用於生產的STS系列之外,1GHz頻寬的向量訊號收發器(VST)、fA系列電源量測單元與TestStand Semiconductor Module,這些系統皆受惠於DC、mmWave等600多種PXI產品。VST結合時序與觸發功能,透過PCI Express Gen 3匯流排介面與亞毫微秒等級的同步化功能,達成高速資料傳輸。利用LabVIEW的產能、TestStand的軟體環境、合作夥伴構成的活躍生態系統、附加IP與應用工程師,便能降低測試成本、縮短產品上市時間,並確保測試器能夠因應RF與混合訊號嚴苛的測試需求。