宜普電源轉換(EPC)發佈第八階段產品可靠性測試報告。該報告表明,在累計超過800萬個元件-小時的應力測試後,沒有元件發生失效的情況。該報告詳細探討EPC元件在被確認為合格產品前所經受的各項應力測試,並且分析元件失效的物理原因。

宜普電源轉換的第八階段可靠性測試報告證明氮化鎵場效應電晶體(eGaN FET)及積體電路在被確認為合格產品前,經受各種非常嚴謹並符合JEDEC認證標準的應力測試。

本報告提供特定產品在經受數百萬個元件-小時的應力測試後所得出的詳細結果。除了利用應力測試來認證產品的可靠性外,對產品的其他方面也進行了盡職調查,包括元件的現場可靠性、在元件的工作壽命內的失效情況及整塊電路板的可靠性。

在客戶的應用中,要取得EPC元件可靠性的認證,客戶可以參考我們的第七階段產品可靠性測試報告,該報告表明,eGaN FET及積體電路具備卓越的現場可靠性—這些元件在經受超過170億元件-小時測試後,得出非常低的失效率(低於1 FIT,代表元件經受10億小時的測試後的失效元件),以及參考第八階段產品可靠性測試報告。

這些累計的元件可靠性資料展示出eGaN FET及積體電路是非常可靠的元件,以及在目前的終端產品的合理壽命內,eGaN FET及積體電路的失效概率非常低。