當先期矽晶樣本準備進行測試時,TetraMAX II能確保型樣就緒,此外,還可減少型樣達25%,讓IC設計團隊能縮短時程並降低測試矽晶的成本,或是根據諸如汽車產業等特殊市場的需求,在不影響測試成本的情況下提升品質。重複使用經生產驗證的ATPG介面,可確保在IC設計及測試流程中達成簡單且零風險的佈署。

TetraMAX II是以新的測試生成、故障模擬及診斷引擎為基礎所設計,這些引擎運作極其快速,並具備超高記憶體效率且針對型樣生成優化所設計,它還可以有效執行ATPG及診斷流程的細質執行緒。這些創新能大幅減少測試型樣,並將ATPG時間從數天縮短至數小時。不論設計尺寸為何,TetraMAX II的記憶體效率能讓伺服器核心發揮作用,效能超越先前受限於高記憶體使用量的解決方案。重複使用經生產驗證(production-proven)的設計建模、規則檢查基礎以及使用者和工具介面,讓設計人員無須擔負風險便能快速地在複雜的設計中佈署TetraMAX II。

此外,TetraMAX II與DFTMAX解決方案、PrimeTime時序分析和StarRC萃取等Galaxy Design Platform工具相連,以及使用其他諸如Yield Explorer 良率管理及Verdi除錯等新思工具,提供最高品質測試以及最快速、最具生產力的流程。